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冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備-艾斯瑞
冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備的技術(shù)參數(shù):  
1, 溫度范圍:-20℃/ -40℃/ -55℃/ -65℃?150℃  
2,上限溫度:200℃  
3,下限溫度:-80℃    
4,溫度偏差:±2℃  
5,溫度波動(dòng):±0.5℃  
6,溫度恢復(fù)時(shí)間:5min   
7,溫度 恢復(fù)條件:高溫150℃保溫≥35min低溫-40℃保溫≥30min
8,試品輸送方式:氣動(dòng)  
9,試品重量:≤3kg  
10,高溫室溫:35min(20℃?170℃)    
11,低溫房間冷卻時(shí)間:70min(20℃?-55℃)  
12,噪音:(dB)≤65 冷熱制冷系統(tǒng)
沖擊試驗(yàn)設(shè)備:  
1. 制冷系統(tǒng)和壓縮機(jī):確保試驗(yàn)箱具有冷卻速率和低溫度要求。 該試驗(yàn)箱使用一套由法國(guó)泰康全封閉式二元串聯(lián)制冷系統(tǒng)壓縮機(jī)組成的壓縮機(jī),該壓縮機(jī)由二元串聯(lián)制冷系統(tǒng)組成。    
2. 制冷劑:采用美國(guó)杜邦公司生產(chǎn)的R404A(低壓循環(huán))和R23(高壓循環(huán))環(huán)保型制冷劑。    
3. 制冷輔助部件:膨脹閥(丹麥“ DANFOSS”)電磁閥(日本),過(guò)濾器(丹麥“ DANFOSS”),壓力控制器(丹麥“ DANFOSS”),機(jī)油壓力保護(hù)裝置(丹麥“ DANFOSS”),截止閥(意大利CASTEL)  ),油分離器(歐美ALCO)等制冷配件均進(jìn)口。    
4. 冷卻方式:空冷或水冷。   

冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備結(jié)構(gòu):  
1. 試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu):試驗(yàn)箱采用整體組合結(jié)構(gòu),即試驗(yàn)箱由位于內(nèi)部的高溫試驗(yàn)箱組成。 后部的下部,位于后部的上部。 低溫測(cè)試箱由后部的制冷單元柜和左后面板的電氣控制柜(系統(tǒng))組成。 這樣,機(jī)柜占地面積小,結(jié)構(gòu)緊湊,外形美觀,制冷單元放置在獨(dú)立的單元機(jī)柜中。    
2. 箱外材料:帶防靜電噴漆處理的冷軋板/ SUS304不銹鋼板  
3. 箱內(nèi)材料:SUS304鏡面不銹鋼板/ SUS304不銹鋼板   
4.  絕緣材料:硬質(zhì)聚氨酯泡沫等級(jí)1  。
5. 電纜穿線孔:滑動(dòng)電纜穿線管設(shè)置在樣品架的頂部和高溫測(cè)試箱的頂部。    
6. 樣品架的承載能力:≥3Kg。   
冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備測(cè)控系統(tǒng):  
1. 控制裝置:控制器采用進(jìn)口可編程序PLC和優(yōu)質(zhì)進(jìn)口LCD彩色LCD觸摸屏雙回路溫度控制系統(tǒng), 控制 顯示器采用進(jìn)口彩色LCD觸摸屏(5.7、7.5英寸或10.4英寸)來(lái)控制顯示屏。 控制器采用中文操作顯示 顯示界面顯示,可顯示和設(shè)置測(cè)試參數(shù),曲線,總運(yùn)行時(shí)間,各段總運(yùn)行時(shí)間等。控制程序的編寫采用人為  機(jī)器對(duì)話模式,界面友好,僅通過(guò)設(shè)置溫度即可實(shí)現(xiàn)冰箱的自動(dòng)運(yùn)行功能。    
2. 操作模式:可以進(jìn)行程序操作或定值操作  
3. 設(shè)備具有獨(dú)立的工作時(shí)間計(jì)時(shí)器。   
冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn):  
1. GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  
2. GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3. GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  
4. GB2423.1低溫試驗(yàn),測(cè)試A   
5. GB2423.2高溫試驗(yàn),測(cè)試 B   
6. GB2423.22溫度變化測(cè)試,測(cè)試N   
7. IEC68-2-14測(cè)試N   
8. 國(guó)家軍事標(biāo)準(zhǔn)GJB150.3-86   
9. 國(guó)家軍事標(biāo)準(zhǔn)GJB150.4-86   
10. GB2423.1-89電氣和電子產(chǎn)品基本測(cè)試程序測(cè)試A:低溫 測(cè)試方法  
11. GB2423.2-89電氣電子產(chǎn)品基本測(cè)試程序測(cè)試B:高溫測(cè)試方法    

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