電子產品的可靠性老化試驗是評價產品在規(guī)定壽命期內以及在預期使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下的功能可靠性的活動。它是將產品暴露在自然或人工環(huán)境條件下，體驗其影響，從而評價產品在實際使用、運輸、儲存等環(huán)境條件下的性能，分析研究環(huán)境因素的影響程度及其機理。
電子產品可靠性測試的目的
通過電子產品的可靠性老化試驗，可以確定電子產品在各種環(huán)境條件下工作或儲存時的可靠性特征，為設計、生產和使用提供有用的數據。還能暴露產品在設計、原材料、工藝流程等方面存在的問題。
電子產品可靠性測試項目
氣候變化是電子產品可靠性不可忽視的重要因素。氣候環(huán)境試驗主要測試產品對各種環(huán)境的適應性，以及產品在高溫、低溫、持續(xù)溫度變化，或溫度循環(huán)變化、臭氧、氣體腐蝕等氣候條件下使用或儲存的適應性。因為它會直接或間接影響產品的可靠性，產品是否可靠需要通過氣候環(huán)境試驗來驗證。
主要有以下項目需要在氣候條件下進行測試:
1.高溫試驗；
2.低溫試驗；
3.溫濕度循環(huán)；
4.恒定濕熱試驗；
5.冷熱沖擊試驗；
6.快速溫度變化試驗；
7.低壓試驗；
8.光老化試驗；
9.腐蝕試驗等。
在實際測試中，由于產品各自屬性和使用環(huán)境的不同，會有一些差異。此時可根據產品特點、具體使用環(huán)境和使用方法，適當選擇或增加一些項目進行測試，以驗證產品是否能長期有效工作。
